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文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間：2024-07-29 瀏覽數量：
在電子設備和儀器的長時間使用中，晶體管等電子元器件需要在連續通電的情況下工作，且經常受到環境條件（如溫度、濕度等）變化和其它因素的影響。因此，這些元器件必須具備高可靠性和穩定性。保證電子元器件的質量和焊接質量是整機生產中的關鍵環節。
1. 早期失效期
新制造的電子元器件在投入使用初期會經歷一個高失效率的階段，稱為早期失效期。此階段的失效多由元器件的制造缺陷引起，例如原材料缺陷或生產工藝問題。早期失效對使用者來說非常有害，因此通過老化篩選加速早期失效的暴露，是確保整機在出廠前進入正常使用階段的重要手段。
2. 偶然失效期
在早期失效期過后，元器件進入偶然失效期，此時失效率較低且穩定，表現為偶然性質的失效。這是元器件的最佳工作階段，失效原因通常是元器件的應力（如溫度、電壓、機械應力等）超過了其承受強度。為了減少此類失效，應在電路設計中考慮最壞情況，并采取如散熱通風、防電磁干擾等具體措施。
3. 損耗失效期
經過長期使用后，元器件會進入損耗失效期，此時由于老化、磨損和疲勞等原因，失效率逐漸上升。損耗失效是材料的化學和物理變化引起的，例如內部引線氧化、表面化學反應等。定期更換是應對損耗失效的主要措施。
老化篩選的目的是通過外加應力（如熱、電、機械應力等），加速早期失效的暴露，并及時篩除不合格的元器件，從而保證正常使用的元器件具有較高的可靠性。以下是常見的老化篩選方法：
1. 高溫存儲
高溫存儲是將元器件在高溫環境中存放一定時間，以考核其在高溫條件下工作的適應性。高溫存儲能加速晶片表面化學反應、穩定參數、加速內引線壓焊點氧化過程等。
2. 高低溫沖擊
高低溫沖擊是在不通電的情況下，將元器件在低溫和高溫環境中交替存放，以檢驗其承受溫度突變的能力。此方法可以發現潛在的故障如晶片裂紋、密封不良等。
3. 高溫功率老化
高溫功率老化是在元器件通電并模擬實際工作條件的情況下，在高溫環境中進行老化。這種方法能有效篩選出表面沾污、引線焊接不良、漏電等元器件。
1. 二極管篩選
- 高溫儲存：+100℃，存放24小時，阻值和常溫相差大于±30%的篩去不用。
2. 三極管篩選
- 高溫儲存：硅管+125℃，存放24小時；鍺管+70℃，存放24小時。
- 低溫儲存：硅管和鍺管均在-40℃至-45℃存放24小時。
- 高低溫沖擊：硅管在+125℃和-45℃之間循環，鍺管在+70℃和-45℃之間循環，各存放半小時，循環三次。
- 常溫功率老化：滿功率通電8小時。
3. 數字集成電路篩選
- 高溫儲存：+125℃，存放72小時。
- 高低溫沖擊：+125℃和-45℃之間各存放半小時，循環5次。
- 高溫功率老化：通電帶滿負荷，老化溫度+85℃，老化時間72小時。
- 高溫動態電參數測試：在85℃下進行動態參數復測，平均延遲時間變化不得超過20%。
電子元器件的二次篩選是檢驗元器件批次合格率和質量一致性的重要手段。通過二次篩選，可以淘汰由于制造缺陷造成的早期失效產品，提高元器件整批的使用可靠性。
廣東優科檢測是專業第三方電子元器件篩選機構，元器件篩選實驗室面積約2400平方米，具備全套資質和專業團隊36人，配備元器件篩選設備180臺/套，可提供專業的電子元器件二次篩選、失效分析（FA）及可靠性驗證等服務。這些措施和設備確保了電子元器件在各種惡劣環境下的高可靠性和穩定性。
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