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車規分立器件MOSFET AEC-Q101認證機構

文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間:2025-06-24 瀏覽數量:

MOSFET AEC-Q101認證服務介紹

優科檢測認證是一家專業的第三方AEC-Q101認證測試機構,具備汽車電子委員會(AEC)制定的AEC-Q101標準CNAS全項檢測資質和檢測能力,為二極管、TVS管、MOSFET、IGBT等分立半導體器件提供一站式AEC-Q101認證測試服務。

我們的實驗室配備高溫高濕試驗箱、高加速壽命試驗系統(HALT)、振動沖擊測試臺、ESD測試儀等多種先進設備,能夠覆蓋AEC-Q101標準中所有環境應力實驗、參數驗證和工藝質量評價項目。


SiC-MOSFET器件AEC-Q101車規認證.jpg


車規分立器件MOSFET AEC-Q101認證的目的及必要性

車規級MOSFET需要在高溫、潮濕、振動、電壓沖擊等極端環境下長期穩定運行,未經可靠性認證的器件可能引發功率開關失效、短路、擊穿等隱患,甚至造成整車系統癱瘓。

AEC-Q101認證以失效機理為基礎,通過嚴苛的環境應力和電性能測試,確保車規分立半導體器件具備高可靠性和一致性,為汽車制造商提供統一的質量準入門檻。


車規分立器件MOSFET AEC-Q101認證標準

AEC-Q101全稱“Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Discrete Semiconductors in Automotive Applications”,最新Rev E版本于2021年3月發布,共涵蓋37項測試,根據器件類型和封裝形式分為五大組:

1. 組A 加速環境應力試驗(如HAST、H3TRB、UHAST、高壓蒸煮等)

2. 組B 加速壽命模擬測試(如高溫工作壽命、溫度循環、電壓循環等)

3. 組C 封裝結構完整性測試(如氣密性、振動、沖擊等)

4. 組D 芯片制造可靠性測試(如參數驗證、功率溫度循環、雪崩耐量、短路可靠性等)

5. 組E 電氣特性確認測試(如ESD、DPA、端子強度、可焊性、耐焊接熱試驗等)


車規分立器件MOSFET AEC-Q101認證測試實驗室


車規分立器件MOSFET AEC-Q101認證檢測項目及要求

以下列舉MOSFET認證中的典型測試項目及其關鍵要求:

1. 高加速應力測試(HAST)

- 標準:JESD22 A-110

- 條件:Ta=130 °C、RH=85%、V\_DS=96 V(G-S短接)、96 小時


2. 高溫高濕反向偏壓(H3TRB)

- 標準:JESD22 A-101

- 條件:Ta=85 °C、RH=85%、V\_DS=80% 額定電壓、1000 小時


3. 溫度循環測試(TC)

- 標準:JESD22 A-104

- 條件:-55 °C至150 °C循環500 次,功率循環評估


4. 雪崩耐量測試(SOA)

- 評估擊穿電壓及雪崩能量承受能力,確保短路及瞬態過壓情況下的穩定性


5. ESD和HBM測試

- 標準:ANSI/ESDA/JEDEC JS-001

- 要求:±2 kV接觸放電、±4 kV空氣放電

更多項目及詳細條件,請聯系優科檢測獲取完整測試手冊。


車規分立器件MOSFET AEC-Q101認證測試機構


車規分立器件MOSFET AEC-Q101認證測試報告辦理流程

1. 咨詢下單:客戶提供樣品參數、型號及檢測需求;我司出具測試方案及報價。

2. 協議簽訂:雙方確認測試項目、時間節點及報告格式后簽訂服務合同。

3. 樣品寄送:客戶將樣品寄至我司實驗室,確保樣品完好。

4. 方案執行:按照AEC-Q101標準執行項目測試。

5. 數據分析:測試完成后,工程師對所有數據進行整理、對比與評估。

6. 報告發放:出具CNAS測試報告,報告內附測試數據、判定準則及結論。

7. 后續支持:提供技術解讀與問題咨詢,必要時可安排復測或方案優化建議。


通過上述流程,確保認證測試全過程透明、高效,幫助客戶快速通過車規級MOSFET AEC-Q101認證準入。


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