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AEC-Q101可靠性測試有哪些難點?

文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間:2025-04-08 瀏覽數量:

AEC-Q101是由汽車電子委員會制定的車規級分立半導體器件可靠性驗證標準,涵蓋二極管、晶體管、MOSFET、IGBT等關鍵元器件認證。作為國內少數具備CNAS全項檢測資質與CNCA發證能力的第三方AEC-Q101檢測實驗室,我們構建了符合ISO/IEC 17025體系的車規級檢測平臺,可提供從測試方案設計到認證報告交付的一站式服務。


SiC-MOSFET器件AEC-Q101車規認證.jpg


AEC-Q101核心測試項目解析

認證體系包含7大類32項嚴苛測試:

1. 環境可靠性試驗:溫度循環(-55℃~150℃)、高壓蒸煮(121℃/100%RH);

2. 壽命加速試驗:高溫反向偏置(HTRB)、高溫柵極偏置(HTGB);

3. 機械應力測試:振動(20~2000Hz)、機械沖擊(1500g);

4. 電氣特性驗證:雪崩能量測試、熱阻測量(RθJA);

5. 失效模式分析:開封檢查、掃描電鏡(SEM)分析。


AEC-Q101檢測實驗室.jpg


AEC-Q101可靠性測試五大技術難點

難點1:極端條件模擬

- 溫度沖擊測試要求溫變速率>40℃/min,需定制液氮快速溫變箱。

- 功率循環測試需精確控制△Tj=100K的結溫波動。


難點2:數據采集復雜性

- MOSFET的RDS(on)參數測量需在脈沖寬度<300μs條件下完成。

- IGBT模塊測試需同步采集VCE(sat)、Eoff等動態參數。


難點3:失效機理判定

- 靜電損傷(ESD)與閂鎖效應(Latch-up)需通過EBIC檢測定位失效點。

- 金屬遷移失效需結合FIB切片與EDS元素分析。


難點4:測試周期控制

- HTOL壽命試驗持續1000小時以上。

- 溫濕度組合測試需進行1000次循環。


難點5:標準動態更新

- 2023版新增SiC器件雙脈沖測試要求。

- TVS管新增UIS(非鉗位電感開關)測試項。


AEC-Q101認證適用產品范圍

AEC-Q101認證適用于汽車電子系統關鍵器件:

- 功率器件:SiC MOSFET、IGBT模塊

- 保護器件:TVS二極管、穩壓管

- 驅動器件:達林頓晶體管、光耦

- 傳感器件:霍爾元件、溫度傳感器


AEC-Q101認證測試機構


AEC-Q101認證測試流程

1. 確定溫度等級:根據器件的應用環境選擇合適的溫度等級。

2. 選擇測試項目:根據器件類型和封裝形式,選擇需要進行的環境應力實驗和性能測試項目。

3. 進行測試:完成選定的測試項目,記錄測試結果。

4. 數據分析:對測試數據進行分析和處理,確保所有測試結果符合AEC-Q101標準的要求。

5. 認證報告:通過測試后,實驗室出具AEC-Q101認證CNAS測試報告,證明器件符合標準。


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