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文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間：2025-05-12 瀏覽數量：
二次篩選是確保半導體集成電路（IC）在嚴苛環境下可靠性的關鍵環節。優科檢測認證作為CNAS資質認證的第三方檢測機構，依據GJB597B-2012《半導體集成電路通用規范》，提供覆蓋B級、BG級、S級質量等級的半導體集成電路二次篩選服務。我們通過16項嚴格檢測項目（如溫度循環、粒子碰撞噪聲檢測等），幫助軍工、航天、通信等領域客戶篩選出高可靠性元器件，降低應用風險。
目的：
1. 剔除潛在缺陷：通過環境應力、電性能測試等手段，發現早期失效的元器件，避免“帶病上崗”。
2. 提升批次一致性：確保同一生產批次的器件性能穩定，滿足軍用或宇航級高可靠性需求。
原理：
模擬元器件實際使用中的極端環境（如高溫、振動、濕度），結合電性能測試，暴露因材料、工藝或設計導致的缺陷，如鍵合不良、密封失效等。
根據GJB597B-2012標準，以下場景需進行二次篩選：
1. 高可靠性領域：航天器、衛星、軍用設備等使用的S級（宇航級）和BG級（高可靠軍用級）集成電路。
2. 關鍵供應鏈環節：進口元器件驗證、國產化替代品質量評估。
3. 長期貯存后復用的元器件：確保存儲后性能未退化。
核心標準：GJB597B-2012 4.4條款明確要求，所有交付的半導體集成電路需按質量等級（B/BG/S級）完成100%篩選試驗，禁止以抽樣替代全檢。
檢測項目覆蓋：
- 環境應力篩選：溫度循環、恒定加速度；
- 結構檢測：密封性（細檢/粗檢）、X射線照相；
- 電性能驗證：老煉測試、反偏老煉、最終電測試。
優科檢測采用“全流程檢測+失效分析”的一站式方案，具體流程包括：
1. 預處理：編序列號、封帽前內部目檢。
2. 環境應力試驗：溫度循環（-55℃~125℃）、粒子碰撞噪聲檢測（PIND）等。
3. 性能驗證：老煉測試（168小時以上）、非破壞性鍵合拉力試驗（100%全檢）。
4. 密封性檢測：氦質譜細檢與氟油粗檢，確保氣密性達標。
1. 需求確認：客戶提供元器件型號、質量等級及檢測要求。
2. 方案制定：優科技術團隊定制篩選方案，明確檢測項目與周期。
3. 樣品檢測：實驗室完成全流程測試，同步記錄失效數據。
4. 報告出具：7-15個工作日內提供CNAS認可的檢測報告，含失效分析建議。
1. 專家團隊
可靠性檢測專家、定制化服務、專業人員技術培訓服務，擁有多名航空、航天電子元器件質量可靠性專組成的專家團隊50余人。
2. 專業設備
配備各種規格的集成電路測試系統，老煉箱50余臺、各類環境箱體20臺套、機械性能與可靠性檢測設備30臺套、半導體分立器件測試系統、模擬器件測試系統、檢漏系統、PIND顆粒碰撞檢測設備等。
3. 一站式方案服務
依據客戶產品規格，準確制定元器件的篩選方案和規程\依據篩選結果，準確定位元器件失效機理，并依據客戶需求給出元器件失效分析方案。
4. 權威保障
軍用級檢測體系控制+軍方實驗室認可檢測設備，保證測試流程和測試精度，第三方公正檢測機構。
半導體集成電路的二次篩選是保障高可靠設備穩定運行的核心環節。優科檢測認證以專業能力與權威資質，為您的元器件質量保駕護航！如需咨詢檢測方案或獲取報價，歡迎聯系我們的技術團隊。
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